WIT-220 硅光晶圆测试探针台

WIT-220晶圆光电测试探针系统综合考虑稳定性、电噪声处理、空间布局等设计要求，采用精密运动控制系统，高性能隔振系统，结合自主研发图像软件算法，实现高稳定性小模斑芯片光性能和高精度电性能测试，能够满足高精度光测试指标以及pA/nA微信号测量应用要求，可提前在晶圆级别筛选不良芯片，防止流入后端工艺，节约整体封测成本，提高研发以及生产效率。