封测系统

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半导体激光二级管可靠性老化测试系统

采用半导体激光器寿命和老化测试系统,可以减少测试成本,提高测试效率。系统包含40个可独立加温及加载电流的老化抽屉,最多可支持1280个器件的测试。您可以同时进行多个独立的测试,提高产量,降低成本。此系统设计非常弹性,允许您在一个系统测试多种不同的封装形式,只需更换不同的老化抽屉即可。系统支持ACC和LIV测试,每一个通道的电流典型值为200mA,可最大定制到2000mA输出。

产品特点

  • 支持Laser、SOA、EA、PD等老化
  • 最高支持1280工位(根据样品形态定制)
  • 支持大功率定制(直流和脉冲模式)
  • 支持在线光功率测试
  • 模块化设计,可扩展性强
  • 符合GR468协议要求
  • 符合JESD22协议要求

产品规格


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