采用LHX-305-COC半导体激光器寿命老化系统,可以减少测试成本,提高测试效率。目前系统包含1个老化机箱及1个老化测试抽屉,可同时对32颗CW芯片进行独立加电老化。结合用户扩容需求,目前结构上按照1个老化机箱及4个老化测试抽屉设计,未来可通过增加机架支撑扩展至多层老化机箱,最大可容纳40个可独立加温及加载电流的老化测试抽屉,同时支持1280个器件的老化。用户可以同时进行多个独立的老化,提高产量,降低成本。
LHX-305-COC的系统设计非常弹性,允许您在一个系统测试多种不同的封装形式,只需更换不同的老化测试抽屉即可。系统支持ACC独立老化,每一个通道的电流典型值为500mA。Reliability Sys软件可以帮助您更加快捷的进行测试。您可以方便的配置多种器件类型和测试方式,软件自动分析、保存及导出测试结果,提供多种报错模式处理,不需要客户进行任何额外的编程,即使掉电也不会影响到数据的完整性。也可以将数据导入到csv文件中,通过其它软件分析。
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